Chip Shine / CSRF / TOP075E12/200G
Afbeelding is ter referentie, neem contact met ons op om de echte foto te krijgen!
TOP075E12/200G
| Onderdeelnummer fabrikant: | TOP075E12/200G |
| Fabrikant: | Chip Shine / CSRF |
| Onderdeel van beschrijving: | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE |
| Loodvrije status / RoHS-status: | Loodvrij / RoHS-compatibel |
| Voorraadconditie:: | Op voorraad |
| Verschepen van: | Hong Kong |
| Verzending Manier:: | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
- OPMERKING
- Chip Shine / CSRF TOP075E12/200G is beschikbaar op chipnets.com. We verkopen alleen nieuwe en originele onderdelen en bieden 1 jaar garantie. Als u meer wilt weten over de producten of een betere prijs wilt toepassen, neem dan contact met ons op, klik op de online chat of stuur een offerte naar ons.
Alle Eelctronics-componenten worden zeer veilig verpakt door ESD antistatische bescherming.
Specificatie
| Type | Beschrijving |
|---|---|
| Serie | TOP075 |
| Pakket | Box |
| Onderdeelstatus | Active |
| Type punt | Spring Tip - Cup Head, 0.047" (1.20mm) Dia |
| Connectie type | - |
| Lengte - Tip | 0.388" (9.85mm) |
| Lengte - over het algemeen | 1.300" (33.00mm) |
| Kleur | - |
| Voltageclassificatie | - |
| Waarderingen | - |
| Hoeveelheid | - |
| Huidige classificatie (ampère) | 3 A |
| Materiaal - Body | Phosphor Copper, Gold Plated |
| Materiaal - Tip | Steel, Beryllium Copper, Gold Plated |
| Bedrijfstemperatuur | -55°C ~ 120°C |
Voorraadstatus: 5000
Minimum: 1
| Hoeveelheid | Stuksprijs | Ext. Prijs |
|---|---|---|
|
||
Vrachtberekening
US $40 door FedEx.
Aankomst in 3-5 dagen
Express: (FEDEX, UPS, DHL, TNT) Gratis verzending op de eerste 0,5 kg voor bestellingen van meer dan 150 $, overgewicht wordt apart in rekening gebracht
Populaire modellen
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
 |
Chip Shine / CSRF |
Toegevoegd aan winkelwagen!
Dit artikel is toegevoegd aan uw winkelwagen.